華清大學5號科研樓保密會議室內，何旭明看著麵前坐著的三位專家，李耀華和賀雲水他都認識，倒是有一個年輕人戴著口罩，隻能看出眉眼，他不認識。
但是這小子竟然能坐在這裡，顯然不是秘書之類的角色，因為會議秘書都坐在右側一邊。
由於這次彙報的重要程度，能進入保密會議室的除了會議秘書和一名記錄人員之外，這三個人都坐在左邊，顯然都是專家。
他有點好奇這個年輕人的身份，但賀雲水率先開了口：
“何教授，請你開始吧！”
何旭明隻好從第一頁開始解釋道：“當前，除了在軍用領域上麵臨昂貴的PMEMLCC問題，每個汽車、手機需要成千上萬了mlcc電容，而全球運營商期待從2G時代跨步，進一步邁向更加繁榮的3G時代。
所以，克服IC、IT基礎設施中電容器硬件產品缺失，廣泛使用更廉價的BMEMLCC就有很大的經濟效益
同時，經過我們團隊預測，隨著時間的推移。
如果未來二十年內，薄層BMEMLCC能徹底成為高可靠性應用MLCC的選擇，特別是取代PMEMLCC，能滿足全球軍事和航空航天行業不斷發展的需求，將會使我國在這一領域取得突破進展，占據世界一流。
在4G甚至未來可能的5G時代，就可以掌握了更為先進的技術.......
李耀華打斷了他的發言，“這些背景東西就不要講了，何教授，請你解釋一下你的團隊是如何克服BMEMLCC的是不可靠問題？”
何旭明略有遲疑，“其不可靠是因為失效，具體機理是，我們的產品在高溫高壓下，產品中的固有缺陷被提早激發，這樣，內部的機理就從束縛態轉變為活躍態。
在電場作用下，這些缺陷定向移動到陰極，形成泄漏電流勒，隨著時間的推移，最終導致產品熱燒毀（具體理論可稱為齊納擊穿），我們采用的方法是通過增加束縛，這樣，可以有效的提高了我們產品的可靠性。”
李耀華直接打斷他的發言；
“02年的時候，漂亮國NASA國家航空航天局戈達德太空飛行中心已經提出了可靠性要求，要求必須長期滿足高質量和高安全標準，確保產品百分之一百的可靠性！你用什麼方法保證測試的？”
何旭明就答：“我，出了常規的halt方法，我使用的是利用PA計測量弛豫缺陷，這樣就可以了解每個去極化機製的泄漏電流峰值。”
聽何旭明這麼說，李耀華看了一眼賀雲水，兩人都默不作聲。
剛才他們本來就問到了一個關鍵性的問題，但是涉及到PA計測量弛豫缺陷這個方法，這兩個人不太清楚，實際上國內用的人不多，直到2007年國內科研團隊才開始大規模使用。
所以，何旭明是仗著他在國內沒太多人懂的先機，利用這個打了個信息差。
可是，兩位院士雖然不懂，但是憑借著深厚的理論和實踐經驗，還是感覺有一些問題，但是由於他們不懂具體怎麼回事，涉及到了一些細節問題。
所以，兩人都不知道該怎麼問了，都看向了蘇武。
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蘇武對PA計測量弛豫缺陷這種技術手段並不陌生，前世當中，蘇武是了解的。
他剛才一直盯著ppt看，發現了一個奇怪的現象。
那就是何旭明的使用PA計測量弛豫缺陷有點怪，不像像是PMEMLCC造成的缺陷，反而特別像是BMEMLCC造成的缺陷。
這樣蘇武不由的懷疑起這個何旭明是拿PMEMLCC當成BMEMLCC來糊弄自己。
再聯想到後世中始終沒有在這項技術做到領先，馬上就斷定了何旭明做了假。
想到這，他馬上開口問：“在恒定電場Ep的作用下，極化缺陷在一定時間（通常為幾分鐘）內形成一種穩定狀態嗎？”
見這個年輕人突然開口，何旭明心裡就一慌。
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