次和中心區域相同，燒結溫度也在記錄範圍內。”
蘇明哲翻到溫場記錄：“邊緣溫度變化。”
“最高溫差零點八攝氏度，記錄在內控範圍。”
“內控範圍不代表晶粒達標。”
“那就把實際結構作為判斷標準。”
蘇明哲將WB-01的結構圖、溫場記錄和成型參數放在同一張桌麵上，材料組人員圍攏過來，依次核對時間、位置和設備編號。
陶安然拿出紅色記號筆，在異常區域旁邊補上三項複查內容。
“原料均質性、弧形過渡區溫場、成型階段局部受力。”
蘇明哲看了一眼：“再加一項，樣件進入掃描台前的支撐姿態。”
“支撐姿態會影響晶粒結構？”
“它未必影響晶粒形成，卻會影響結構掃描結果，先排除設備誤差。”
陶安然在記錄表上補了一行：“結構數據和工藝數據分開核，最終由兩組數據交叉確認。”
蘇明哲抬頭看她：“高溫爐。”
陶安然合上記錄夾：“給材料組加高溫爐。”
材料組一名工程師愣住：“現在？”
“現在提需求，設備型號、溫區數量和交付周期一起報。”
蘇明哲看向陶安然：“兩台。”
陶安然翻到設備預算頁：“一台用於鎢基第一壁，一台留給複材組？”
“兩台都給第一壁。”
陶安然筆尖停在預算表上：“材料組的分紅，這回該買更大的高溫爐了。”
蘇明哲點頭：“夠用。”
陶安然看著他：“你說夠用，通常代表後麵還會追加。”
“後麵的事，後麵報。”
她把兩台設備的申請欄全部填上，隨後將表格遞給行政人員。
“采購申請走專項科目，型號由蘇明哲確認，交付周期按最短方案排。”
行政人員接過申請單：“預算需要宋總複核。”
“讓她複核。”
蘇明哲重新回到測試台前，材料組已將WB-01從結構掃描區移出，換上第二塊樣件WB-02。
“WB-02先做支撐姿態校準。”
工程師把樣件放到承台上，四個支撐點依次接觸，三套定位設備分別讀取樣件角度和中心位置。
“第一支撐點，零點零一毫米。”
“第二支撐點，零點零二毫米。”
“第三支撐點，零點零一毫米。”
“第四支撐點，零點零二毫米。”
蘇明哲看完屏幕：“鎖定。”
固定機構合攏，樣件進入掃描區域。
WB-02的結構掃描從中心開始，晶粒尺寸分布比WB-01更均勻，內部孔道保持完整，弧形過渡區域的尺寸變化也處於設計範圍。
陶安然看著兩組數據：“WB-02中心區通過初測，邊緣區域繼續掃。”
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蘇明哲沒有回應，隻將視線放在屏幕上，掃描光點沿樣件邊緣推進，工程師按照固定間隔記錄數據。
兩個小時後，WB-02結構掃描完成，材料組拿到初步結果，晶粒控製達到內控區間。
蘇明哲把兩塊樣件的記錄並排放好，隨後看向WB-01。
“WB-01重做，WB-02進入高熱流台。”
陶安然走過來：“WB-02結構掃描結果還要完成第二輪複核。”
“複核和高熱流準備並行。”
“高熱流設備現在可用。”
“先做設備空載。”
工程師把高熱流測試台打開，設備艙門向兩側滑開，內部承台、熱源控製器和多組測溫探頭逐一通電，屏幕上浮出一排待命狀態。
蘇明哲帶人檢查高熱流台的承載麵，確認樣件固定孔位與設備夾具對應，再將WB-02的結構記錄接入控製端。
“高熱流工況按模擬聚變熱負荷執行。”
工程師問：“目標熱流密度按照哪一組參數？”
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